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TRITOP 光学坐标量测系统基本简介

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发布时间: 2016-10-12 17:54

正文摘要:

系统简介 TRITOP是一套工业用,非接触式光学量测系统,其最主要目的是撷取标签点的3D坐标,快速且精确的把标签点的3D坐标计算出来,现在的应用有变型分析(Deformation Analysis)、在线质量控制(On-site Quality Cont ...

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